NLIR（全稱為 Non-Linear-Infrared）總部位于丹麥法魯姆，是一家專注于中紅外光學傳感技術的創新企業，隸屬于Nynomic 集團，秉持 “釋放紅外潛能（Infrared Unleashed）” 理念，致力于推動中紅外光探測范式革新。公司產品體系覆蓋中紅外檢測全鏈條，包括中紅外光譜儀、光源、波長轉換器等核心檢測設備。
我們今天為大家介紹的產品就是來自 NLIR 公司的 MIDWAVE 中波紅外光譜儀，它憑借高靈敏度與精準分析能力，廣泛適用于科研、工業檢測等領域。
從檢測流程看，NLIR 中波紅外光譜儀實現了 “光耦合 - 轉換 - 分離 - 檢測” 的高效閉環：
1064nm 激光穿透晶體形成高強度電場，同時入射中紅外信號光并與之重疊。
兩種光子在晶體內通過 SFG 生成近可見光，且此過程借助 “虛態”（非物理能態）作用，避免光子能量額外損耗。
生成的近可見光與未反應的激光分離，被硅基 CMOS 陣列等探測器捕捉并轉化為電信號，蕞終生成中紅外光譜數據。
三大核心亮點，重塑MIR光譜分析體驗
NLIR MIDWAVE 中波紅外光譜儀（以下簡稱“MIDWAVE”）憑借快速、精準、靈敏三大核心優勢，在眾多檢測場景中脫穎而出。接下來，我們將從技術參數、實際應用場景等維度，為大家詳細解析這款儀器的性能，帶您深入了解它如何助力各領域提升檢測效率與精度。
在需要實時追蹤動態過程的場景中，MIDWAVE 的速度優勢堪稱 “碾壓級”。它打破了傳統中紅外光譜儀的采集局限，用三大核心能力實現 “快” 的突破：
全光譜采集快：可在毫秒級時間內完成 2.0-5.0μm全波段光譜捕捉，無需分段掃描，即使是快速變化的化學反應、高速移動的樣品，也能完整記錄。
圖2：MIDWAVE的光譜范圍
讀取頻率高：全光譜蕞大讀取速率達 400Hz，意味著每秒可完成 400 次光譜采集，搭配 10μs 級的時間分辨率，能精準捕捉如氣體濃度波動、高速旋轉樣品的光譜變化。
流程適配快：支持外部觸發模式與實時數據流傳輸，配合 NLIzeR 軟件的快速參數調整功能，無需繁瑣操作即可銜接不同實驗或生產流程。
圖3：NLIzeR 軟件
精準是光譜分析的生命線，MIDWAVE 從光學設計到數據處理，全方位筑牢 “精準” 防線：
波段與分辨率雙精準：光學帶寬覆蓋 2.0-5.0μm 中紅外關鍵區間，分辨率可在 2.4-15.0nm范圍內靈活調整，既能滿足寬波段快速篩查需求，也能聚焦特定波數進行精細分析。
數據量化準：配備 16 位高比特深度，能精準區分微弱的光譜信號差異，避免數據 “失真”；同時支持可調曝光時間（0.0108-500ms）與平均次數設置，可根據樣品特性優化信噪比，確保每次采集的數據都穩定可靠。
接口與集成準：采用 SMA-905 光纖接口，光纖耦合設計保證光路傳輸穩定，減少外界干擾；更提供 MATLAB、Python、C 語言（via DLLs）的 API 接口，能無縫融入自動化 workflows 或 AI 分析系統。
對微量物質或弱光信號的探測能力，直接決定了科研與檢測的深度，而 MIDWAVE 的 “靈敏度” 讓許多 “不可能” 變為現實：
室溫下穩定靈敏：無需復雜的低溫冷卻裝置，在室溫環境下即可保持高靈敏度性能，不僅簡化了實驗設置，更降低了實驗現場的使用門檻。
抗干擾能力強：在蕞低曝光時間下，暗噪聲標準差僅 11 counts，大幅降低背景信號對檢測結果的影響。即使在反射測量中，面對彎曲的樣品表面，也能憑借低噪聲與高靈敏度，輸出高質量光譜數據，為材料表面特性研究提供清晰依據。
探測下限極低：靈敏度高達 130k counts/(ms?μW)，在 100ms 曝光時間下，蕞小可探測功率僅為 5pW/nm，相當于能捕捉到極微弱的光信號變化。
通過“光源-氣室-光譜儀”的簡單搭建，MIDWAVE 可實現氣體的實時透射光譜檢測。光源發出的光穿過氣室后，光譜儀每20ms捕捉一次光譜，屏幕上能清晰顯示氣體的吸收特征，無論是工業管道內的氣體成分監控，還是環境中微量氣體的追蹤，都能快速響應。
圖4：測量案例 —氣體實時光譜檢測
在光學濾鏡生產中，MIDWAVE 搭配光源，僅需2ms的曝光時間，就能在旋轉濾光輪的每一圈轉動中，完成對每個濾鏡的透射光譜測量。這意味著生產線的篩選效率大幅提升，無需為檢測環節“減速”。
圖5：測量案例 —光學涂層表征光譜
面對轉速高達300轉/分鐘（RPM）的樣品輪，MIDWAVE 依然能精準捕捉不同塑料薄膜的光譜信息。這一能力在工業生產中可以無需停機取樣，在線監測即可完成塑料薄膜的成分、特性分析，大幅降低生產損耗。
圖6：測量案例 —實時采集塑料薄膜光譜
憑借超高靈敏度，MIDWAVE 可實現各類材料的反射光譜檢測。即使面對具有曲率的樣品，在 TOUCH Interface 精密設計的配合下，依然能輸出高質量數據，為材料表面特性分析、涂層質量檢測等場景提供可靠支持。
從科研實驗室的前沿探索，到工業生產線的效率提升，NLIR MIDWAVE 中波紅外光譜儀正以“快速、精準、靈敏”的核心優勢，打破MIR光譜分析的技術壁壘，為更多行業帶來變革性的檢測解決方案。